高低溫低氣壓試驗箱GB/T5170.10標準介紹

   高低溫低氣壓試驗箱GB/T5170.10-2008《電工電子產品環(huán)境試驗設備檢驗方法 高低溫低氣壓試驗設備》規(guī)定了高低溫低氣壓（含低氣壓、低溫低氣壓和高溫低氣壓）試驗設備的檢驗項目、檢驗用主要儀器及要求、檢驗負載、檢驗條件、檢驗方法、數據處理結果與檢驗結果、檢驗周期等內容。

    高低溫低氣壓試驗箱GB/T5170.10應用于對GB/T2423.21《電工電子產品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗M:低氣壓試驗方法》、GB/T2423.25《電工電子產品基本環(huán)境試驗規(guī)程  試驗Z/AM:低溫/低氣壓綜合試驗方法》和GB/T2423.26《電工電子產品基本環(huán)境試驗規(guī)程  試驗Z/BM:高溫/低氣壓綜合試驗方法》所用試驗設備的檢驗/驗收檢驗和周期檢驗。本標準還適用于類似試驗設備的檢驗。

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